集成电路PCT高压加速老化试验箱生产商

集成电路PCT高压加速老化试验箱生产商

集成电路PCT高压加速老化试验箱内胆水位采用了自动补水的方式，让的操作加方便轻松。凡是采用了内胆水槽式加热，具有升温快，在温度方面分布均匀。箱盖方式进行些变动，采用了新式双向翻盖式，开关加的自如，加的方便。

集成电路PCT高压加速老化试验箱技术规格：

温度范围：100℃～135℃  

湿度范围：100R.H  蒸汽饱和型

温度波动度：≤±0.5℃  

灯管率：40W  

紫外波长：290nm～400nm(订货时说明）

模拟凝露：凝露系统时间可调

紫外光暴露、模拟凝露时间范围：0～99小时

支持样板：150×75(mm)

样板数量：约40块

试验时间：0～9999H可调

温度均匀度：≤±2℃

湿度波动度：≤±2

湿度均匀度：≤±2  

黑板温度：40℃～65℃

灯管间距离：35mm

样品与灯管距离：50mm

辐照度范围：≤50w/m2

淸现场并恢工作时间

必要的反时间

集成电路PCT高压加速老化试验箱设计特色：

开机验时间调整校准时间?史换失件时间取备件时间  

故障分析--时间实故陣时间  

等待维修人员时间操作手确认故陣时间  

加强模块设计,配合合的测试点，或加强自动测能,可以大大地缩短故障--时间。  

注意隔离，以保验电路、测设备和测试点发生故障或短路等现象时，不致坏被测设备。  

设计时要尽可能地提髙元器件的可见和可达,便于测,便于寻找和确定故障。  

机内没有测电路时,应能使用通用测试设备测设备。测试点和测试接口关系等要明显标出。测试设备的连接器应是通用的，并能迅速装卸。  

应保设备能带电测,分系统和组件拉出或插拔后应不断电，或附设转接电缆，以便能方便测童，判定故障部位。  

集成电路PCT高压加速老化试验箱-缩短故障--时间的设计措施  

    为了便于迅速而准确地进行故障--,设备应合设置测试点。当设备发生故障时，通过测试点被测特的变化可以确定故障部位。例如某通信机和某电视机都设置了多个测试点，设备发生故障后，只要测量各测试点的电压,可判定故障部位。设置测试点时，关键测试点好在面板上,其他测试点也要可接近，便于测量。  

设备内设置故障自动报警系统或装置。当设备发生故障时，能借助指示灯、发光二及管、电表或音响装置指示出故障部位。数字电路需有故障自动测能。例如,某--机面板上有多个电表测各工作状态,不仅能指示故障部位,各T.作状态有无变化也都在测之列。  

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